规格参数

- 逻辑测试ATE与应用测试 SLT 双模式高品质分级筛选测试，质量筛选效果更好

- 高品质分级筛选测试，适用于来料品质把控，筛选测试出不同质量等级颗粒，对应用于高中低产品线，提升产品质量

√ 优等品Bin 1：通过行业标准JEDEC、原厂设计标准和KTi加严测试的内存颗粒，可用于品质要求高的服务器内存条产品。

√ 标准品 Bin2：通过行业标准JEDEC，符合供应商出货规格，可用在中低阶产品，或在市场上出售。RMA为优等品的10倍。

√ 残次品 Bin8：该类不符合JEDEC规范，可向内存供应商退换货。

- 内存硬件级修复（Post Package Repair），进一步提升颗粒品质

√ 体质较好的标准品可升级为优等品

√ 部分残次品可修复为标准品

应用范围

- 量产品质把控

- 内存频率速度分类

- 新器件导入验证

- 失效分析