卓越的双模测试架构

       KT-4MG+ Pro 是一款专为 DDR4 内存条高速测试而设计的尖端设备，集成 ATE（自动化测试设备）逻辑测试 和 SLT（系统级测试） 双模式，提供全面的内存质量检测能力。

核心能力

1、高速性能：

支持测试频率高达 3.2Gbps，能够快速精准定位内存缺陷并进行 PPR（Post Package Repair）修复，显著提高内存条的可靠性。

2、全面覆盖：

DC/AC测试、频率/时序精准测量、SPD读写、功能性测试、信号完整性测试、长期稳定性测试、物理级修复等方面。

3、广泛适配：

兼容多种 DDR4 DIMM 标准规格，包括 UDIMM、RDIMM、SODIMM、LRDIMM 和 NVDIMM，满足不同应用场景的需求。

4、极端环境支持：

测试温度范围从常温到高达 85°C，也可选配-40℃~125℃三温机柜，确保内存在极端条件下的稳定性和准确性。

核心价值

1、高效解决方案：

具备独特的内存高品质分级筛选能力，通过精准检测和修复功能，帮助客户提升内存质量，同时保护良率，降低返修率。

2、可扩展性设计：

系统配置多样，支持从芯片到内存条、从手动到自动、从实验室分析到大规模量产的不同测试需求，提供灵活且全面的测试解决方案，投资更具性价比。

3、精密制造：

代表了内存测试技术领域的领先水平，体现我们对质量的极致追求。