DDR5 芯片高速测试仪，采用双模式内存测试 【ATE（Automatic Testing Equipment）逻辑测试和 SLT（System Level Test）系统应用测试】，测试频率可达 7.2Gbps ，可超频至8Gbps，测试不良芯片可以做PPR修复。测试仪支持常温-85°高温测试，可支持芯片x8 /x16 configurations。