KT-5MA-2L 是一款专为 DDR5 UDIMM内存条而设计的高速、高性能测试仪，结合 ATE（自动化测试设备）逻辑测试 与 SLT（系统级测试） 双模式，为内存测试提供全面支持。

核心技术亮点

1、卓越性能：

支持 UDIMM 内存测试频率高达 7 Gbps，轻松应对次世代内存高速需求。

2、全面覆盖：

DC/AC测试、频率/时序精准测量、SPD读写、功能性测试、信号完整性测试、长期稳定性测试、物理级修复等方面。

3、精准修复：

具备 PPR（Post Package Repair）修复 功能，可有效修复检测中发现的不良内存条，提高内存利用率和可靠性。

4、适应多环境：

支持测试温度范围从常温至高达 85°C，也可选配-40℃~125℃三温机柜，在严苛环境下依然保持高精度与稳定性。

5、广泛兼容：

专为 UDIMM 类型设计，确保设备测试的全面性与一致性。

核心价值

1、领先技术：

双模式测试方案结合高速性能，体现内存测试领域的技术前沿。

2、可靠性保障：

通过严格的性能测试和修复功能，显著提升内存条的工作稳定性。

3、行业适配性：

面向高性能计算和服务器市场，满足日益复杂的内存测试需求。