●提供失效分析和ATE电性能测试服务，定位并复现失效情况。

●客户提供4~50pcs颗粒或1~8pcs内存条及应用平台错误信息，ATE平台用于失效位置定位，SLT平台用于失效情况复现。

●初步结果3天内完成，包括高品质筛选和DRS检测；最终失效分析报告在5~7天内交付。